ARSTEK X10
Металлографический микроскоп ARSTEK X10 с расширенным полем зрения для проверки и ремонта плат и прочих объектов как в микроэлектронике, так и высокотехнологичном производстве.
На передней панели микроскопа расположена панель с клавишами для манипуляций для того, чтобы работа и наблюдение за осуществлялось образцами было быстрее.
Идеальная микроскопическая система освещения по Келеру обеспечивает яркое и равномерное поле зрения. Хорошая оптическая система и объективы с высокой числовой диафрагмой и большим рабочим расстоянием обеспечивают идеальное микроскопическое изображение.
Использование технологии многослойного покрытия позволяет компенсировать сферическую и хроматическую аберрацию от ультрафиолетового до ближнего инфракрасного диапазона. Высокое разрешение при любых значениях увеличения обеспечивают четкость, хорошую цветопередачу и плоское изображения.
Тринокулярный наблюдательный тубус с регулируемым углом наклона поможет свести к минимуму мышечное напряжение и дискомфорт, вызванные долгими часами работы.
Механизм фокусировки и точной настройки столика расположены для низкого положения руки, что соответствует эргономичному дизайну и обеспечит вам максимальный комфорт.
Встроенная панель управления позволяет переключать объективы на микроскопе одним нажатием клавиши, чтобы изменить увеличение.
X10 имеет большой предметный столик и большой диапазон перемещения, который передвигается легко и быстро. Это идеальный инструмент для микроскопического наблюдения промышленных образцов большой площади.
Большое рабочее расстояние и объектив с высоким разрешением позволяют этому микроскопу работать с образцами печатных плат с большими зазорами по высоте из-за различных электронных компонентов и полупроводников, используя специальный объектив с большим рабочим расстоянием для удобства работы с подобными образцами.
После многих лет исследований, разработок и усовершенствований в линзах стали использовать многослойную технологию нанесения покрытия с использованием апохроматического объектива, которая восстанавливает истинный цвет образца.
Микроскоп X10 научно-исследовательского класса может реализовывать различные методы наблюдения с помощью модульной комбинации: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, флуоресценция, поляризованный свет и т.д.
Технические характеристики ARSTEK X10 | ||
Оптическая система | Оптическая система на бесконечность | |
Окуляры | 10x/25 мм, 10х/23 мм, 10х/22 мм, 12,5х/17.5 мм, 15х/16 мм, 20х/12 мм | |
Фокусировочная система |
Шестиступенчатая система фокусировки Коаксиальный фокусирующий механизм с низким положением С петлей ограничения высоты, регулятором провисания и механизмом замены маховика микродвижения слева направо Диапазон фокусировки 32 мм, значение решетки точной настройки 1 мкм |
|
Наблюдательная насадка |
Тринокулярная, Siedentopf, угол наклона: 30 градусов, межзрачковое расстояние 47-78 мм Наклонная тринокулярная Ergo, угол наклона: 0-30 градусов, межзрачковое расстояние 47-78 мм |
|
Револьверная головка | Для светлого и темного поля, со слотом ДИК (авто) | |
Предметный столик |
Размер 14 “ x 12”, диапазон перемещения 356 мм x 305 мм: (Площадь освещения для проходящего света: 356 x 284 мм) Его можно использовать для 300-миллиметровых пластин, к ним прилагается кронштейн для образца. |
|
Конденсор | Конденсор с проходящим освещением | |
Методы наблюдения |
ЭПИ освещение | Светлое поле, темное поле, ДИК Номарского, упрощенная поляризация и флуоресценция |
Проходящий свет |
Светлое поле, упрощенный поляризованный свет |